廈（xià）門濕熱老化試驗箱（xiāng）/濕熱老（lǎo）化試驗箱廠（chǎng）家（jiā）/報價/德儀

廈門（mén）濕熱老化試驗箱/濕熱老（lǎo）化試驗箱廠家/濕熱老化試驗箱/德儀高低溫濕熱試驗箱： 適用於（yú）電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫交變（biàn）濕熱環境下貯存（cún）、運輸、使用時的適應性試（shì）驗； 是各類電子、電工、電器（qì）、塑膠等原（yuán）材料和（hé）器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐幹性試驗及品管工程的可靠性（xìng）測試設備； 特別適用於光（guāng）纖、LCD、晶（jīng）體、電感、PCB、電池（chí）、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環試驗。 高低溫濕（shī）熱試驗箱符合標準: 濕熱試驗箱技術條件: GB10586-2006 低溫試驗箱技術條件: GB10589-2006 高（gāo）低（dī）溫試驗箱技術條件: GB10592-2006 高溫試（shì）驗箱技術條件: GB11158-2006 低溫試驗方法A: GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1) 高溫（wēn）試驗方法B: GB2423.2-2001(IEC68-2-2) 恒定濕（shī）熱試驗（yàn）方法C: GB2423.3-93(IEC68-2-3) 高溫（wēn）壽命試驗: GJB360.8-87(MIL-STD-202F) 高溫試驗方法: GJBl50.3-86(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法: GJBl50.4-86(MIL-STD-810D) 濕熱試驗方法: GJBl50.9-93(MIL-STD-810D) 恒定濕（shī）熱試驗（僅濕熱型（xíng））: GB/T 2423.3-1993 濕熱試驗（僅濕熱型）: GJB 150.9-1986 電工電子產品環境試驗設備基本參（cān）數檢定方法 溫度試驗設備 : GB/T5170.2-1996 電工電子產（chǎn）品（pǐn）環境試驗設備基本參數檢定方（fāng）法 濕熱試驗設（shè）備: GB/T5170.5-1996 高低溫濕熱試驗箱控製係統: 韓國進（jìn）口TEMI300按（àn）鍵式儀表，PID微電腦SSR溫度控製器；外置式（shì）鍋爐蒸汽式（shì）加濕器（qì）具有節能降耗功能，可節約70%能耗（hào）電器控製（zhì）主件采用進（jìn）口“施（shī）耐德”元件，更好地控製溫度；保溫係統采用超細玻（bō）璃纖維填充保溫區,內外膽連接（jiē）部位采用非金屬耐高、低溫材料,有效降低溫度傳（chuán）導 具有自動演算的功能，可將溫濕度變化條件立即修正，使溫濕度控製更為精確穩定 高低溫濕熱試驗箱製冷係統: 製冷機采用法國原裝（zhuāng）“泰康”全封閉壓縮機。 美國（guó）“艾高”幹燥過濾器，意大利“卡士妥”電磁閥，冷凍係統采用單元或二元式低溫回（huí）路係統設計。 采用多翼式送風機強力送風循環，避免任何死角，可使測試區域（yù）內溫度分（fèn）布（bù）均勻。 風路循環出（chū）風回風設計，風（fēng）壓、風（fēng）速（sù）均符合測試標準，並可使開門瞬間溫度回穩（wěn）時間快（kuài）。 升溫、降溫（wēn）、係（xì）統（tǒng）完全獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低（dī）故障率 高低溫濕熱試驗箱技術參數： 設備型號：DEJC-80A，DEJC-100C，DEJC-225B，DEJC-408B，DEJC-500B, DEJC-800C，DEJC-010B DEJC-80B，DEJC-100B，DEJC-225C，DEJC-408C，DEJC-500C，DEJC-800D，DEJC-010D DEJC-80C，DEJC-100D，DEJC-225D，DEJC-408D，DEJC-500D，DEJC-800B，DEJC-010C DEJC-80D，DEJC-100A，DEJC-225A，DEJC-408A，DEJC-500A，DEJC-800A，DEJC-010A DEJC-80E，DEJC-100E，DEJC-225E，DEJC-408E，DEJC-500E，DEJC-800E，DEJC-010E DEJC-150C，DEJC-150A，DEJC-150D，DEJC-150B，DEJC-150E 溫度範圍（wéi）：0～+100℃ 溫度波動度：≤±0.5℃ 溫度均勻度：≤2℃ 濕（shī）度範圍：20～98% R.H 濕度偏差：+2%R.H /-3% R.H 升溫時間：2~3℃/min（設備空載時） 降溫時間：0.7~1℃/min（設備（bèi）空載時） 工作室尺寸（深×寬×高（gāo））：400*400*500mm 外型尺（chǐ）寸（深×寬×高）：950*950*1360mm